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VCC-SXCXP1SW可以检测并检查400nm至1700nm波长频谱区域中对象的无形部分。

模型:VCC-SXCXP1SW(SWIR)

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VCC-SXCXP1SW的图像可以检测并检查400nm至1700nm波长频谱区域中对象的无形部分。 [在SWIR波长光谱下检查的优点]根据物体的水渗透率明显区分材料和内容。根据液体的类型,光透射因子或光吸收因子的符号不同,因此可以检查含量的过量或缺乏,并且可以检查含量中的异物存在。在图像上可以清楚地看到叶静脉和水果的划痕,因此它适合于农产品检查以查看新鲜度和形状。VCC-SXCXP1SW适用于各种检查应用,例如晶片检查,PCB检查,食品和医疗检查,农产品检查,身份证明和分类,制造过程检查等。[SPEC] VCC-SXCXP1SW(SWIR)(SWIR)
  • I/F:CXP3×1车道
  • 传感器:Senswir IMX990
  • 传感器尺寸:1/2类型
  • 单元大小:5×5µm
  • 有效像素编号:1296×1032
  • 帧速率:134.73fps(8bit)?125.2fps(10bit)?71.52fps(12bit)
  • 镜头安装:C安装
  • 尺寸:65×65×65mm
  • 功能:全局快门,连接器:BNC,外部触发器,ROI,H&V翻转,照明触发器控制,检测波长光谱:400〜1700nm,成本效益
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